當(dāng)前位置:首頁 > 產(chǎn)品中心 > XRF樣品杯/樣品膜 > 薄膜
產(chǎn)品分類
美國(guó)Chemplex樣品膜被廣泛應(yīng)用于XRF樣品制備、檢測(cè)過程,適用于各類X-ray光譜儀(XRF:WD-XRF、ED-XRF)。 X-ray Film能用于固體、液體、粉末、顆粒、土壤等樣品XRF檢測(cè),適用于RoHS&WEEE檢測(cè)、油品成份分析、金屬成份分析等。厚度6.0 μm光譜儀薄膜--256
美國(guó)Chemplex樣品膜被廣泛應(yīng)用于XRF樣品制備、檢測(cè)過程,適用于各類X-ray光譜儀(XRF:WD-XRF、ED-XRF)。 X-ray Film能用于固體、液體、粉末、顆粒、土壤等樣品XRF檢測(cè),適用于RoHS&WEEE檢測(cè)、油品成份分析、金屬成份分析等。厚度6.0 μm光譜儀薄膜--250
美國(guó)Chemplex樣品膜被廣泛應(yīng)用于XRF樣品制備、檢測(cè)過程,適用于各類X-ray光譜儀(XRF:WD-XRF、ED-XRF)。X-ray Film能用于固體、液體、粉末、顆粒、土壤等樣品XRF檢測(cè),適用于WEEE檢測(cè)、油品成份分析、金屬成份分析等。厚度3.6μm光譜儀薄膜--156
美國(guó)Chemplex樣品膜被廣泛應(yīng)用于XRF樣品制備、檢測(cè)過程,適用于各類X-ray光譜儀(XRF:WD-XRF、ED-XRF)。X-ray Film能用于固體、液體、粉末、顆粒、土壤等樣品XRF檢測(cè),適用于WEEE檢測(cè)、油品成份分析、金屬成份分析等。厚度3.6 μm光譜儀薄膜--150
美國(guó)Chemplex樣品膜被廣泛應(yīng)用于XRF樣品制備、檢測(cè)過程,適用于各類X-ray光譜儀(XRF:WD-XRF、ED-XRF)。 X-ray Film能用于固體、液體、粉末、顆粒、土壤等樣品XRF檢測(cè),適用于RoHS&WEEE檢測(cè)、油品成份分析、金屬成份分析等。厚度2.5 μm光譜儀薄膜-106
美國(guó)Chemplex樣品膜被廣泛應(yīng)用于XRF樣品制備、檢測(cè)過程,適用于各類X-ray光譜儀(XRF:WD-XRF、ED-XRF)。 X-ray Film能用于固體、液體、粉末、顆粒、土壤等樣品XRF檢測(cè),適用于RoHS&WEEE檢測(cè)、油品成份分析、金屬成份分析等。厚度2.5 μm光譜儀薄膜-100
聯(lián)系我們
廣州德駿儀器有限公司 公司地址:廣州市越秀區(qū)解放南路123號(hào)金匯大廈2519室 技術(shù)支持:化工儀器網(wǎng)掃一掃 更多精彩
微信二維碼
網(wǎng)站二維碼