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美國Premier X-ray樣品膜(X-ray Film)以其低的(幾乎不含)雜質(zhì)和厚度均勻而嚴(yán)格生產(chǎn),好的柔韌性和抗化學(xué)腐蝕性,保證檢測(cè)結(jié)果的可靠性和重現(xiàn)性,被廣泛應(yīng)用于XRF樣品制備、檢測(cè)過程,適用于各類X-ray光譜儀(XRF:WD-XRF、ED-XRF)。4.0μ光譜儀薄膜TF-240-255
美國Premier X-ray樣品膜(X-ray Film)以其低的(幾乎不含)雜質(zhì)和厚度均勻而嚴(yán)格生產(chǎn),好的柔韌性和抗化學(xué)腐蝕性,保證檢測(cè)結(jié)果的可靠性和重現(xiàn)性,被廣泛應(yīng)用于XRF樣品制備、檢測(cè)過程,適用于各類X-ray光譜儀(XRF:WD-XRF、ED-XRF)。TF-240-255光譜儀薄膜
美國Premier X-ray樣品膜(X-ray Film)以其較低的(幾乎不含)雜質(zhì)和厚度均勻而嚴(yán)格生產(chǎn),較好的柔韌性和抗化學(xué)腐蝕性,保證檢測(cè)結(jié)果的可靠性和重現(xiàn)性,被廣泛應(yīng)用于XRF樣品制備、檢測(cè)過程,適用于各類X-ray光譜儀(XRF:WD-XRF、ED-XRF)。厚度25.4μ樣品膜TF-225
美國Premier X-ray樣品膜(X-ray Film)以其極低的(幾乎不含)雜質(zhì)和厚度均勻而嚴(yán)格生產(chǎn),好的柔韌性和抗化學(xué)腐蝕性,保證檢測(cè)結(jié)果的可靠性和重現(xiàn)性,被廣泛應(yīng)用于XRF樣品制備、檢測(cè)過程,適用于各類X-ray光譜儀(XRF:WD-XRF、ED-XRF)。實(shí)驗(yàn)室檢測(cè)光譜儀薄膜TF-115
美國Premier X-ray樣品膜(X-ray Film)以其低的(幾乎不含)雜質(zhì)和厚度均勻而嚴(yán)格生產(chǎn),好的柔韌性和抗化學(xué)腐蝕性,保證檢測(cè)結(jié)果的可靠性和重現(xiàn)性,被廣泛應(yīng)用于XRF樣品制備、檢測(cè)過程,適用于各類X-ray光譜儀(XRF:WD-XRF、ED-XRF)。光譜儀聚丙烯膜TF-240
美國Premier X-ray樣品膜(X-ray Film)以其低的(幾乎不含)雜質(zhì)和厚度均勻而嚴(yán)格生產(chǎn),好的柔韌性和抗化學(xué)腐蝕性,保證檢測(cè)結(jié)果的可靠性和重現(xiàn)性,被廣泛應(yīng)用于XRF樣品制備、檢測(cè)過程,適用于各類X-ray光譜儀(XRF:WD-XRF、ED-XRF)。光譜儀邁拉膜TF-160
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